Nanofelbontású méréstechnika II.

Egyetem/Kar/Intézet/Tanszék: Miskolci Egyetem, Mőszaki Anyagtudományi Kar, Anyagtudományi Intézet, Kihelyezett Nanotechnológiai Tanszék

A kurzus státusza a tanulmányi programon belül: Az anyagmérnöki alapképzésben (BSc) résztvevő hallgatók által választható Nanotechnológia Szakirány egyik kötelező tantárgya

A kurzus célja: Bemutatni azokat a mikroszkópos módszereket, melyeknek az elméleti hátterét a megelőző félévben tanulták a hallgatók. A gyakorlatok nagymőszerek mellé vannak telepítve és ott egy- egy tématerület mérési technikájának a bemutatására kerül sor, ahol megismerik az adott berendezés mőködését. Fontos, hogy lássák a hallgatók a műszerek
képességeit és a mérési felbontásokat, ezt a célt szolgálja az u.n. reprezentatív mintaválasztás. Minden esetben a gyakorlatokat a mintaelőkészítés eszközeinek megismerése és alkalmazása előzi meg. A mérnöki tudás fontos része, hogy felmerülő mikroszkópos problémák gyakorlati kivitelezésénél legyenek a hallgatóknak tapasztalatai, tudják, hogy az adott módszertől mit várhatnak és ahhoz milyen minta előkészítettséget kell biztosítani.

A kurzus leírása: A 4 óra gyakorlat egy blokkban tartva. A kurzus 3 fő mikroszkópos vizsgálati fejezetből áll: Nanoedukátoros mérések, Pásztázó és Transzmissziós Elektron Mikroszkópos mérések. Ezek témánként alfejezetekre vannak bontva, amelyekből 1-2 rész kivitelezése jut egy blokkra. A hallgatók az előadásokon használt számítógépes anyagokat, és
a jelen gyakorlatleírásokat előre megkapják.

A kreditpontok megszerzésének követelményei: A félév során az összes gyakorlat látogatása kötelező, ami az aláírás megszerzésének a feltétele. Kétszer lehet hiányozni és azt még a félévben pótolni. A gyakorlatok elején a hallgatók a megelőző gyakorlat témájából kérdéseket kapnak, amire adott válaszokat a gyakorlatvezetők százalékosan értékelik. A félév
végén egy zárthelyi dolgozatot írnak a hallgatók. A zárthelyi jegyéből és a gyakorlatokonfeltett kérdésekre adott válaszok alapján áll elő a végleges gyakorlati jegy fele-fele súlyozási arányszámítással.

Oktatási módszer: mérőeszközöknél mérési demonstráció bemutatása

Előfeltételek: Nanofelbontású méréstechnika I.

Ajánlott irodalom:
1. Pozsgai Imre, A pásztázó Elektronmikroszkópia és az Elektronsugaras mikroanalizis alapjai, ELTE Eötvös Kiadó Budapest, 1995.
2. Pozsgai Imre, Az analitikai Elektronmikroszkópia alapjai, ELTE Eötvös Kiadó Budapest, 1996.
4. V.L. Mironov, Fundamentals of Scanning Probe Microscopy, Russian Ac. Sci, 2004
5. D. Brandon and W.D. Kaplan, Microstructural Characterization of Materials, J. Wiley, 2008.
6. Tecnai Basic General Introduction, FEI User Manual, Eindhoven, 2002.
7. Jelen tantárgyleírás
Jelen verzió lezárva: 2010. május.

Tárgyfelelős: 
Dr. Hegman Norbert
Képzés: 
Anyagmérnöki BSc
Félév: 
ötödik
Kurzus típusa: 
Gyakorlat
Óraszám/hét: 
0+4
Kreditek száma: 
4