Nanometrológia II.

Egyetem/Kar/Intézet/Tanszék: Miskolci Egyetem, Mőszaki Anyagtudományi Kar, Anyagtudományi Intézet, Kihelyezett Nanotechnológiai Tanszék

A kurzus státusza a tanulmányi programon belül: Az anyagmérnöki alapképzésben (BSc) résztvevő hallgatók által választható Nanotechnológia Szakirány egyik kötelező tantárgya

A kurzus célja: Bemutatni azokat a magasabb színtő mikroszkópos módszereket, melyeknek az elméleti hátterét a megelőző félévben tanulták a hallgatók. A gyakorlatok nagyműszerek mellé vannak telepítve és ott egy- egy tématerület mérési technikájának a bemutatására kerül sor, ahol megismerik az adott berendezés mőködését. Fontos, hogy lássák a hallgatók a
mőszerek képességeit és a mérési felbontásokat. A gyakorlatokra választott minták lehetőség szerint a hallgatók diplomatervéhez kötődik, amit a hallgatók készítenek elő a már tanult minta-előkészítési módszerekkel. A mérnöki tudás fontos része, hogy felmerülő mikroszkópos problémák gyakorlati kivitelezésénél legyenek a hallgatóknak tapasztalatai,
tudják, hogy adott módszertől mit várhatnak és ahhoz milyen minta-előkészítettséget kell biztosítani.

A kurzus leírása: A 3 óra gyakorlat egy blokkban tartva. A kurzus 3 fő mikroszkópos vizsgálati fejezetből áll: Atomierő Mikroszkópos mérések, Pásztázó és Transzmissziós Elektron Mikroszkópos mérések. Ezek témánként alfejezetekre vannak bontva, amelyekből 1-2 rész kivitelezése jut egy blokkra. A hallgatók az előadásokon használt számítógépes
anyagokat és a jelen gyakorlatleírásokat előre megkapják.

A kreditpontok megszerzésének követelményei: A félév során az összes gyakorlat látogatása kötelező, ami az aláírás megszerzésének a feltétele. Kétszer lehet hiányozni és azt még a félévben pótolni. A gyakorlatok elején a hallgatók a megelőző gyakorlat témájából kérdéseket kapnak, amire adott válaszokat a gyakorlatvezetők százalékosan értékelik. A félév
végén egy zárthelyi dolgozatot írnak a hallgatók. A zárthelyi jegyéből és a gyakorlatokon feltett kérdésekre adott válaszok alapján áll elő a végleges gyakorlati jegy fele-fele súlyozási arányszámítással. 

Oktatási módszer: mérőeszközöknél mérési demonstráció bemutatása

Előfeltételek: Nanometrológia I.

Ajánlott irodalom:
1. Pozsgai Imre, A pásztázó Elektronmikroszkópia és az Elektronsugaras mikroanalizis alapjai, ELTE Eötvös Kiadó Budapest, 1995.
2. Pozsgai Imre, Az analitikai Elektronmikroszkópia alapjai, ELTE Eötvös Kiadó Budapest, 1996.
4. V.L. Mironov, Fundamentals of Scanning Probe Microscopy, Russian Ac. Sci, 2004
5. D. Brandon and W.D. Kaplan, Microstructural Characterization of Materials, J. Wiley, 2008.
6. Tecnai Basic General Introduction, FEI User Manual, Eindhoven, 2002.
7. Nanometrológia I. tantárgyleírás és Nanofelbontású méréstechnika I. tantárgyleírás
8. Jelen tantárgyleírás
Jelen verzió lezárva: 2010. május.

Tárgyfelelős: 
Dr. Hegman Norbert
Képzés: 
Anyagmérnöki MSc
Félév: 
negyedik
Kurzus típusa: 
Gyakorlat
Óraszám/hét: 
0+3
Kreditek száma: 
3