Nanometrológia I.

Egyetem/Kar/Intézet/Tanszék: Miskolci Egyetem, Mőszaki Anyagtudományi Kar, Anyagtudományi Intézet, Kihelyezett Nanotechnológiai Tanszék

A kurzus státusza a tanulmányi programon belül: Az anyagmérnöki alapképzésben (MSc) résztvevő hallgatók által választható Nanotechnológia Szakirány egyik kötelező tantárgya

A kurzus célja: Bemutatni azokat a magasabb szintő mikroszkópos módszereknek az elméleti hátterét, amelyekkel a hallgatók a következő féléves gyakorlataik során találkozni fognak. A vizsgálati módszereken túlmenően a tárgy szintetizálja azokat az anyagszerkezeti, fizikai alapjelenségeket, amelyek szükségesek a mikroszkópos módszerekkel nyert szerkezeti információk helyes értelmezéséhez. A mérnöki tudás fontos része, hogy a felmerülő problémák megoldásánál legyenek a hallgatóknak ismeretei az alkalmazható mikroszkópos anyagvizsgálatai lehetőségekről és az általuk nyerhető információkról, ez is a tárgy hosszú távú célja.

A kurzus leírása: A 2 óra előadás egy blokkban tartva. A kurzus 3 fő mikroszkópos vizsgálati fejezetből áll: Nagyfelbontású Elektron Mikroszkópia, Pásztázó Közeltér Mikroszkópia valamint a Raman spektroszkópia magasabb színtő fejezetei. Ezek alfejezetekre vannak bontva, amelyekből 2-3 rész tárgyalása jut egy blokkra. A kurzus a Transzmissziós Elektron Mikroszkópia fáziskontrasztos képalkotásával kezdődik, majd az optikai közeltér leképezés és a Raman szórás leírásával folytatódik. Az előadások folytatásként épülnek a Nanofelbontású méréstechnika I. B.Sc tárgyra, vagy feltételezik a hallgató alapszintű
mikroszkópos ismereteit. A hallgatók az előadásokon használt számítógépes anyagokat
megkapják.

A kreditpontok megszerzésének követelményei: A félév során az előadások látogatása elvárt 70%-ban, ami az aláírás megszerzésének a feltétele. A szóbeli vizsgán a hallgató az előre megadott tételsorból a két nagy tématerületből egy-egy tételt húz, amiből felkészül. A vizsga során a hallgató szóban felel és közben a témához illeszkedő kérdéseket kap, amire
adott válaszok a meghatározóak, a felkészülési jegyzet nem értékelendő csak a vizsgázó segítségére szolgál. 

Oktatási módszer: táblánál, krétával, számítógépes kivetítés

Előfeltételek: Nanofelbontású Méréstechnika I és II (BSC 4. és 5. félév) vagy ennek ekvivalensei
 
Ajánlott irodalom:
1. Pozsgai Imre, Az analitikai elektronmikroszkópia alapjai, ELTE Eötvös Kiadó Budapest,
1996.
2. V.L. Mirolov, Fundamentals of Scanning Probe Microscopy, Russian Acad. Sci, 2004
3. D. Brandon and W.D. Kaplan, Microstructural Characterization of Materials, J. Wiley, 2008.
4. X. Zou, Electron Crystallography of Inorganic Structures, Chem. Comm. Stockholm Uni., 1995.
5. Tecnai Basic General Introduction, FEI User Manual, Eindhoven, 2002.
6. Jelen tantárgyleírás
Jelen verzió lezárva: 2010. május.
Tárgyfelelős: 
Dr. Hegman Norbert
Képzés: 
Anyagmérnöki MSc
Félév: 
harmadik
Kurzus típusa: 
Előadás
Óraszám/hét: 
2+0
Kreditek száma: 
2